粒形分析儀的測量技術(shù)

　　粒形分析儀的測量技術(shù)

　　粒形分析儀擁有雙ＣＣＤ成像技術(shù)，包括基準鏡頭記錄大顆粒的粒度和形態(tài)信息，聚焦鏡頭記錄小顆粒的粒度和形態(tài)信息。兩個(gè)鏡頭既可單獨使用也可同時(shí)使用，因而能在一個(gè)很寬的粒度范圍內得到具有重現性的數據結果。一次進(jìn)樣，同時(shí)測得粒度大小、粒度分布、球形度、對稱(chēng)性、凹凸度等顆粒綜合信息。

　　粒形分析儀*了樣品折射率測量技術(shù)，對未知折射率的新材料也能得到的粒度測試結果。粒形分析儀采進(jìn)口半導體泵浦激光器，壽命大于25000小時(shí)；采用進(jìn)口的高精度透鏡組，了微弱的、各角度的散射光信號無(wú)一漏網(wǎng)；采用進(jìn)口的高速CCD與高像遠心鏡頭，成像清晰無(wú)拖尾現象；采用高速顆粒識別技術(shù)，每分鐘可分析幾萬(wàn)個(gè)顆粒數目?？傊?，該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。

　　粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱(chēng)為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT)。LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢是其較高的分辨率,通過(guò)對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆?；蚪橘|(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測量結果。配套的軟件,通過(guò)分析計算復雜的多脈沖信號光阻時(shí)間,可在幾秒鐘內得到清楚和精確的顆粒分布測量結果。粒形分析儀實(shí)時(shí)可視化采樣,有效地讓用戶(hù)可以輕松地監測樣品準備過(guò)程或受污染情況,同時(shí)也為了避免樣品無(wú)關(guān)的或不必要的組分影響分析結果。