粒形分析儀采樣分析 粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱(chēng)為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT)。
LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢是其較高的分辨率,通過(guò)對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆?；蚪橘|(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測量結果。配套的軟件,通過(guò)分析計算復雜的多脈沖信號光阻時(shí)間,可在幾秒鐘內得到清楚和精確的顆粒分布測量結果。
粒形分析儀實(shí)時(shí)可視化采樣,有效地讓用戶(hù)可以輕松地監測樣品準備過(guò)程或受污染情況,同時(shí)也為了避免樣品無(wú)關(guān)的或不必要的組分影響分析結果。
采用*的激光光阻法進(jìn)行快速的粒徑測量；
采用復雜的動(dòng)態(tài)圖像分析法,地分析顆粒粒形；
測量結果直接且僅取決于顆粒大??；
測量結果不受顆?；蚪橘|(zhì)的物理和光；
測量結果直接與顆粒大小相關(guān),而非推算出來(lái)；
無(wú)需了解樣品的折射指數；
能分析半透明和透明的樣品激光和圖像通道的結合*地結合了激光光阻法和復雜的動(dòng)態(tài)粒形圖像分析技術(shù)；
對球形、非球形及延長(cháng)顆粒的分析定性；
可同時(shí)測量粒徑、形狀和濃度多種樣品池和光學(xué)元件配置可滿(mǎn)足不同類(lèi)型的干法及濕法檢測需求；
測量過(guò)程中可實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品顆粒圖像。
