此次,新帕泰克將繼續參加6月2至4日在上海新博覽中心舉辦的世界制藥原料中國展(CPhI & ICSE China 2010),現場(chǎng)為廣大客戶(hù)展示從實(shí)驗室至工業(yè)在線(xiàn)粒度控制技術(shù),為解決美國FDA對醫藥生產(chǎn)提出的PAT(Process Analytical Technology)過(guò)程分析技術(shù)要求,提供的過(guò)程控制手段。
公司展位為E1C05,屆時(shí)將攜全自動(dòng)干濕二合一激光粒度儀HELOS/OASIS(測試范圍0.1-3500μm)、動(dòng)態(tài)粒度粒形分析儀QICPIC(測試范圍1-20000μm)、納米激光粒度儀NANOPHOX(測試范圍1-10000nm)、超聲衰減粒度儀OPUS(0.01-3000μm),并有德國總部工程師與中國工程師在現場(chǎng)為您做的介紹與解答。
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