光是一種電磁波，當光束在其前進(jìn)過(guò)程中遇到粒子時(shí)，會(huì )引起散射，散射光與光束的初始傳播方向形成角度θ。散射角的大小與粒徑有關(guān)，粒子越大，光散射的角度越小。粒子越小，散射光的角度θ越大。通過(guò)測量不同角度散射光的強度，可以得到樣品的粒度分布。
納米激光粒度儀通過(guò)少量樣品的檢測結果表達的粉體粒度分布。因此，采樣的要求是確保被測樣品具有足夠的代表性，否則不僅會(huì )得到錯誤的結果，而且會(huì )降低被測樣品的質(zhì)量。頻繁的工作可能會(huì )產(chǎn)生誤導并產(chǎn)生嚴重的后果。因此，無(wú)論采用何種的激光粒度儀，科學(xué)規范的取樣方法都是獲得正確檢測結果的前提。納米激光粒度儀是目前粒度測量領(lǐng)域應用較為廣泛的粒度分析儀之一，具有動(dòng)態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便等特點(diǎn)。它特別適用于測量具有較寬粒度分布的粉末和液滴。激光粒度儀作為一種性能優(yōu)良、應用廣泛的粒度測量?jì)x器，在其他粉體加工和應用領(lǐng)域得到了廣泛的應用。
隨著(zhù)粉體技術(shù)的發(fā)展，對粒度儀性能的要求逐漸提高，尤其是對粒度儀測量范圍的要求越來(lái)越寬。測量的下限是幾百甚至幾十納米，測量的上限是1000甚至幾千微米。這對新型激光粒度儀的設計提出了很大的挑戰。
粒徑越小，散射光在360度空間分布中的強度差越小，當粒徑達到一定限度時(shí)，強度差異會(huì )很小，幾乎難以區分，這是納米激光粒度儀的下限?？梢钥闯?，當粒子足夠小，強度矢量圖無(wú)限接近圓（粒子無(wú)限接近中心）時(shí)，強度的差異很難區分。光學(xué)設計中的障礙和散射光的特性決定了傳統激光粒度儀的下限一般在0.2微米左右。
