PICTOS的特點(diǎn)
*從5微米到3500微米顆粒的粒度和粒形同時(shí)分析
*適合同現有的取樣系統結合，如代表性取樣系統TWISTER， 單探針式取樣系統或者是混樣器。
*有效的分散取代了原來(lái)需要通過(guò)軟件來(lái)修正圖形邊界的問(wèn)題，測試結果更。
*得到高速顆粒流的準靜態(tài)圖像
*清晰的圖像邊界，顆粒的大小和清晰度同顆粒在測試區域的位置無(wú)關(guān)(無(wú)景深)
*以黑色輪廓清楚地顯示顆粒的邊界，實(shí)現對全透明顆粒的檢測
*短時(shí)間內得到顆粒的清晰圖像，測試結果的統計性好
*用戶(hù)自定義數據分級功能滿(mǎn)足用戶(hù)對數據細分高達30000級，對分布曲線(xiàn)上的任何一個(gè)分級點(diǎn)無(wú)限制。
預定義的分級數據已儲存于軟件中，包括HELOS系列數據等級、篩分分級點(diǎn)等等
*的計算模式可供選擇
測試完畢后可以重新選擇模式進(jìn)行計算和數據處理：
粒度分析：等效投影圓面積徑，Feret徑等等
粒形分析：球形度、長(cháng)細比和不規則度
纖維分析：纖維長(cháng)度、纖維粒徑、彎曲系數和復雜結構的分析
顆粒圖形庫：根據篩選條件顯示并打印出用戶(hù)挑選出的特定顆粒，追溯顆粒原始運動(dòng)情況，如篩選球形顆粒所占的比例等
用戶(hù)自定義分析：提供基于滿(mǎn)足用戶(hù)所定義和要求的粒度粒形分析。
*PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。
