圖像分析儀直觀(guān)可靠

　　現在，微粉和金剛線(xiàn)企業(yè)對線(xiàn)鋸微粉的檢驗主要依靠馬爾文、庫爾特，也有用掃描電鏡的。顯微鏡通常也有，但只是目力檢測，多是用來(lái)看有無(wú)大顆粒，也無(wú)法量化分析。掃描電鏡，由于價(jià)格昂貴，使用者較少，而且掃描電鏡檢測操作復雜、效率低，并不適合用作一般的原材料檢驗。今天，我們重點(diǎn)講一下馬爾文（激光法）、庫爾特（電阻法）和圖像分析儀。

　　圖像分析儀是將現代電子技術(shù)、數字圖像處理技術(shù)和傳統顯微鏡相結合的產(chǎn)品，一般由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像頭、計算機、圖像處理軟件等組成。下圖是一款在線(xiàn)鋸微粉質(zhì)量檢驗中使用廣泛的圖像分析儀。

　　顯微圖片和分析報告互為佐證，可以地反映微粉產(chǎn)品質(zhì)量。無(wú)論庫爾特還是馬爾文，只能反映粒度分布，不能對微粉形狀組成（形貌）進(jìn)行檢測，這對微粉質(zhì)量控制不利。

　　一般，人們會(huì )想當然地認為：圖像法采樣少，代表性不強；操作復雜，易受人為影響。通過(guò)生產(chǎn)檢驗，圖像法的代表性、重復性可以；通過(guò)制定操作規范，人為誤差可控，操作也不復雜。我們平時(shí)制樣、檢測、出報告，一般用時(shí)10min。

　?。?）馬爾文對D50粒徑的分析較準，可用于對中值粒徑D50檢測。但由于并不反映粒度實(shí)際組成，更不能反映顆粒形貌，當微粉粒度，特別是形貌發(fā)生變化時(shí)，是無(wú)法有效發(fā)現的，而形貌變化將直接影響線(xiàn)鋸微粉的上砂，庫爾特同樣不能有效反映微粉形貌的變化，所以不建議將馬爾文、庫爾特作為主要的微粉質(zhì)量把關(guān)手段。

　?。?）微粉質(zhì)量控制，需要制定產(chǎn)品質(zhì)量標準，馬爾文、庫爾特由于無(wú)法反映形貌，可量化指標較少，無(wú)法依據它們制定有效的質(zhì)量標準。帶有圖像分析功能的圖像分析儀（如本文所用儀器KBKL-Ⅱ圖像分析儀），可以對粒度分布、粒度特征值、微粉形狀組成等分析量化，以此制定質(zhì)量標準，可有效控制產(chǎn)品質(zhì)量。

　?。?）馬爾文、庫爾特測量速度快，重復性好，操作簡(jiǎn)單，但微粉變化時(shí)可靠性差，可作為常規檢測手段。圖像分析儀直觀(guān)可靠，可作為微粉質(zhì)量檢測的主要手段。